传统的测量方式时采用千分尺手动检测，这种方法不*消耗了大量的人工，而且精确度很低，人工测量带有主观性误差，同时由于采用接触式测量容易划伤产品。针对这一问题，上海岱珂机电设备有限公司推出多镜头联动手机外壳检测仪。手机外壳平面度检测仪是由广电检测系统，上海白光干涉测量仪器、X轴与Y轴二维移动系统，上海白光干涉测量仪器，上海白光干涉测量仪器、人机交换系统等几部分构成的光、机、点、控一体化的检测系统。手机外壳平面度测量仪用用了陷阱的光路与激光联动技术，配置有高精度CCD影像和高精度的日本镭射测头系统，采用激光非接触测量，避免与工件接触造成划伤损坏。岱珂为全球各行业提供高性能光谱共焦位移传感器已超10年。上海白光干涉测量仪器
上海岱珂机电激光位移传感器：此系列产品性能指标达到国际前列水平，测量重复精确度达到0.5um，可实现对国外同类产品的替代。以高效、低成本、模块化的方式为广大客户提供机器视觉的相关解决方案。为集成商提供的全系列一体化3D智能激光视觉传感器产品已经在消费类电子制造、汽车制造、新能源制造、钣金加工等领域广泛应用。上海岱珂机电激光位移传感器DK-2000系列产品：•型号***，Z向测量范围从5mm至1000mm；•340Hz@全画幅的采集速率，满足多种场景需求；•千兆以太网传输；•支持Modbus等输出测量数据；•支持模拟输出；•可与PLC通信；•可直接控制电机。上海白光干涉测量仪器上海岱珂3D测量设备： 搭配线激光或线光谱实现3D扫描测量，适用3C样品通用扫描(治具和标定块不同)。
岱珂辅料贴合设备设备主要是对手机终端项目进行各种辅料贴合，批量自动贴合，保证生产效率、良率以及生产稳定性。测试行程满足5-7寸手机结构件行程（143.5mm*69.9*7.6mm~ 179*103.68*8.6mm）；兼容各种颜色（从浅色到深色）产品贴合生产；使用双飞达进行上料，单只流2pcs辅料贴合生产。料贴合设备，包括上料结构、下料结构、循环旋转的转盘以及将辅料带贴在盖板上的贴合结构；通过设备实现盖板与辅料带的贴合，全程自动化，提高了贴合的效率，减少人工成本。
光谱共焦位移传感器——Multipoints多点式传感器
此多点传感器可定制为：分布12个测量点，以覆盖控制表面的关键区域。
可同时使用一个、多个或全部12个测量通道进行距离或厚度测量，从而确保产线高速测量以控制更重要的表面。
Multipoints多点式传感器——配置
可配置的控制器：Prima2、Prima4、Multima
可配置的光学笔：点光谱测头(Everest系列、CL-MG系列、OP系列、ENDO系列)、非标准定制测头
Multipoints多点式传感器——技术特点
以12点的版本为例，此多点传感器可分布12个测量点，以覆盖控制表面的关键区域；
可同时使用一个、多个或全部12个测量通道进行距离或厚度测量，从而确保产线高速测量以控制更重要的表面；
对于超过12个测量通道的多点传感器，可组合多个单元，我们的研发部门可为您的特定应用准备可行性研究方案。
l 非接触式测量距离和厚度
l 12个同步测量通道
l 大表面测量
l 测量更重要的表面
l 快速和简单集成
此系列产品超新技术——颠覆传统激光三角测距法的光谱共焦技术。
上海岱珂机电设备有限公司自从2011年11月成立以来，通过充分了解客户实际需求，根据当今国内外现代装备设备的发展方向为客户提供优异的系统配置方案，并长期与国内外众多的科研机构及厂家开展***的合作。上海岱珂机电设备有限公司凭借其先进的技术和对***的追求，严格的品质管理及良好的售后服务，向客户提供集成问题解决方案和完善的售前和售后服务，使之持续不断的提高客户的生产效率和产品质量，从而达到为客户提供优异和增值的服务。岱珂机电充分了解客户实际需求。上海白光干涉测量仪器
上海岱珂线激光位移传感器已经在消费类电子制造、汽车制造、新能源制造、钣金加工等领域广泛应用。上海白光干涉测量仪器
2020年，注定是不平凡的一年，突如其来的****疫情对我们的经济和社会都造成了严重的影响。尽管如此，我国科学家仍以实验室为战场，争分夺秒，奋力拼搏，取得了一个又一个新突破、新发现。
2020 中国光学领域**社会影响力事件（Light10）评选活动的推出就是为了追寻中国光学领域的那些高“光”时刻，那些让我们感动、自豪、永远铭记的时刻。
2020 中国光学领域**社会影响力事件（Light10）
入围榜单（说明：排名不分先后，按原报道发布日期排序。）
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我国自主研发成功商用毫米波相控阵芯片
如何让消费者享受价格低、速度快的通信解决方案？1月，网络通信与安全紫金山实验室宣布：我国自主可控、成本**的毫米波相控阵芯片问世，它速度快、覆盖广，一脚踢开了毫米波通信技术商用的“绊脚石”。
司逖测量技术（上海）有限公司为您提供光谱共焦位移传感器，在线精密测量方案。司逖测量技术（上海）有限公司为客户提供颠覆传统激光三角测距法，全新测量原理的光谱共焦传感器，STIL来自法国的光谱共焦发明者，3D尺寸精密测量方案提供者。 上海白光干涉测量仪器
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