2020年，注定是不平凡的一年，突如其来的******对我们的经济和社会都造成了严重的影响。尽管如此，我国科学家仍以实验室为战场，争分夺秒，奋力拼搏，取得了一个又一个新突破、新发现。
2020 中国光学领域**社会影响力事件（Light10）评选活动的推出就是为了追寻中国光学领域的那些高“光”时刻，那些让我们感动、自豪、永远铭记的时刻，上海pcb孔深检测测量仪器。
2020 中国光学领域**社会影响力事件（Light10）
入围榜单（说明：排名不分先后，按原报道发布日期排序。）
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我国自主研发成功商用毫米波相控阵芯片
如何让消费者享受价格低、速度快的通信解决方案？1月，网络通信与安全紫金山实验室宣布：我国自主可控、成本**的毫米波相控阵芯片问世，它速度快、覆盖广，一脚踢开了毫米波通信技术商用的“绊脚石”。
司逖测量技术（上海）有限公司为您提供光谱共焦位移传感器，在线精密测量方案，上海pcb孔深检测测量仪器。司逖测量技术（上海）有限公司为客户提供颠覆传统激光三角测距法，全新测量原理的光谱共焦传感器，STIL来自法国的光谱共焦发明者，3D尺寸精密测量方案提供者，上海pcb孔深检测测量仪器。 岱珂机电持续不断的提高客户的生产效率和产品质量，从而达到为客户提供增值的服务。上海pcb孔深检测测量仪器
共聚焦光谱成像技术以极高的分辨率提供可靠、精确和可再现的尺寸测量。什么是光谱共焦干涉仪？非接触式轮廓测量技术中的测量精度，通常受机械振动和微扫描台位置不准确的限制。为不再受此类环境干扰，STIL开发了对振动不敏感的全新干涉测量法。采用这种新型干涉仪系统，干涉仪显微镜的精度可达亚纳米级。光谱共焦干涉测量原理STIL干涉测量法基于白光干涉图（SAWLI）的光谱分析。它包括分析在光谱仪上观察到的干扰信号，以便测量参比板和样品之间的气隙厚度。成熟系统的**性在于将参考板固定在检测目标上。由于参考板和样品固定在一起，机械振动不会影响测量结果。此外，该传感器可用于测量太薄而不允许使用光谱共焦技术的透明薄膜。可测厚度为μm。上海晶圆检测测量仪器上海岱珂机电激光位移传感器DK-2100系列产品可与PLC通信，可直接控制电机。
上海岱珂机电设备有限公司是一家专业从事进口机电设备、仪器仪表及高精度检测设备的现代化企业。设备广泛应用于汽车、航空航天、消费电子、冶金、钢铁、能源、电厂、纺织、注塑、橡胶、半导体、医疗等领域。岱珂致力于壮大业已打造的自动化精密测量技术平台，在平台基础上寻找来自于全球先进的精密测量方案，为中国客户提供**的精密在线测量方案，提升客户的**竞争力，并降低客户成本。我司在华东和华南分别设有总公司和办事处，以便及时响应，为客户提供比较大支持。
上海岱珂机电DK322C系列光谱共焦测量仪，上海岱珂机电悬臂式系列光谱共焦测量仪，该仪器适用于以二维为主的应用领域，也能做三维辅助测量；可实现高效、准确的大批量工件测量，适用于精密部件的检测和质量控制。上海岱珂机电全自动固定桥式光谱共焦测量仪：•超精密全自动测量，四轴CNC全自动控制；•全自动变倍光学镜头，可实现自动变倍测量；•12.5倍大变倍比镜头，适应不同测量需求；•采用130万高清数字相机，成像更清晰；•采用程控式5环8区环形表面光，LED轮廓底光，同轴光源；•摇杆操控全自动对焦、测量、寻边、倍率切换等功能保证测量高效率；•采用00级济南青花岗岩机台，精度高、稳定性更好；•可选配点激光，线激光，进口接触式探针，搭载自主研发的专业测量软件，进行三次元测量。岱珂产品广泛应用于汽车、航空航天、消费电子、冶金、钢铁等领域。
STIL DUO双重技术“点”传感器
●世界上初次个提供两种同时测量技术的系统：光谱共焦原理和具备原始共焦设置的白光光谱干涉原理。
●STIL的共焦彩色原理可测量范围从130um到42mm。非常适用于粗糙度和表面形貌测量，在任何类型的材料上都可获得非常高的精确度，无论是反射还是散射。测量符合新ISO 25178标准。
●STIL的共焦光谱干涉测量法，可获得亚纳米分辨率(<1nm)的厚度和形貌测量结果，可在大于100um的测量范围内进行测量，且样品的zui小可测厚度为0.4um。
●完美适用于工业环境，许多输入和输出以及软件开发套件，接口非常简单。
光谱共聚焦模式
●使用Multipeak软件进行多层样品测量
白光光谱干涉模式
●振动不敏感度（OPILB-RP光学笔）
●高信噪比（OPILB-RP光学笔）
●不需垂直扫描
●zui小可测厚度0.4um
●光学原理固有的亚纳米分辨率
●共焦使相邻点之间无干扰
●厚度测量上具有出色性能（0.3nm分辨率，10nm精度） 公司系列产品亚微米级超高精度——比较高测量精度可达14纳米。上海晶圆检测测量仪器
上海岱珂机电激光位移传感器DK-2100系列产品，满足多种3C产线测试场景需求。上海pcb孔深检测测量仪器
上海岱珂机电设备有限公司推出多镜头联动手机外壳检测仪。手机外壳平面度检测仪是由广电检测系统、X轴与Y轴二维移动系统、人机交换系统等几部分构成的光、机、点、控一体化的检测系统。此外，针对手机外壳外观尺寸的检测，上海岱珂机电设备有限公司有手机外壳测量仪。多镜头联动高精度高速测量系统，其利用多个镜头同时拍照，并以光罩技术量测出被测量物的具体尺寸，能在1秒内进行多尺寸的高精度快速测量，并自动显示产品是否合格，为各大产家节省大量用工成本，并大提高了工作效率，此技术已广泛应用在多家国内外大厂所定制的专门使用测量设备中。上海pcb孔深检测测量仪器
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