企业简介-司逖测量技术（上海）有限公司
我们有一支敬业实干的技术型售后服务团队，在华东、华南均有办公室，地址位置优越，以便客户发现问题后快速响应、提供质量服务！法国STIL,1993年创始于法国南部的艾克斯(Aix-en-Provence,普罗旺斯前首府),迄今为止为全球各行企业提供高性能的光谱共焦位移传感器（ChromaticConfocalSensor）已经超过25年。为应对公司在中国市场快速增长的需求，2016年STIL成立了中国销售公司，即司逖测量技术（上海）有限公司。我司在华东上海浦东新区及华南的东莞长安分别设有办公室，以便更好地为中国客户提供质量的售前售后服务。
作为光谱共焦传感器的发明者及全球**者，上海晶圆检测测量仪器，法国STIL公司基于这一创新的技术开发了两个系列的产品：从μm到100mm测量行程的点光谱共焦传感器、从。这些分辨率的非接触式传感器运用于各种不同要求的高精密测量场合。从物体表面细微结构，上海晶圆检测测量仪器、形状及纹理粗糙度的测量分析，上海晶圆检测测量仪器，到工业环境下的在线质量检测、过程控制与逆向工程，及实验室研究场合的高精度设备，法国STIL光谱共焦传感器都成了众多客户不可或缺的选择。 上海岱珂机电激光位移传感器DK-2100系列产品，满足多种3C产线测试场景需求。上海晶圆检测测量仪器
从麦克卢汉“媒介即人的延伸”的论断来看，传感器作为一门技术，前所未有地扩大了人对外界的感知阈值，增强了人类认识自然、认识自我、认识客观事物发展过程中抓取本质的能力。技术本身作为一扇窗户，打开了一个关于数据的新世界。物联网时代下，城市生活中无处不在的每一个传感器终端口都为人们的生活提供了智能城市、智能家居的生活要素。传感器技术的**是数据，一方面作为新闻界信息采集的工具而存在，另一方面作为用户反馈体验的传感器而存在。如今，个体的可穿戴设备中有各种各样的传感器，像压力传感器、心跳传感器、血压传感器、温度传感器等。这些传感器的数据都可成为新闻的素材甚至是反馈手段。司逖测量技术（上海）有限公司为您提供光谱共焦位移传感器，在线精密测量方案。司逖测量技术（上海）有限公司为客户提供颠覆传统激光三角测距法，全新测量原理的光谱共焦传感器，STIL来自法国的光谱共焦发明者，3D尺寸精密测量方案提供者。上海晶圆检测测量仪器岱珂机电以先进的企业文化，高素质的人才队伍，“以人为本，追求出色”的经营管理理念为基石。
一纸芯片禁令让我们意识到了芯片的重要性，伴随着华为事件的不断发酵，各大企业开始了造芯片的热潮，在国家的扶持之下，很多企业不断取得突破，国家还立下了在2025年之前，将芯片自给率达到70%以上的目标。可以说，彼时的中国只有一个目标，那就是制造出属于我们自己的芯片。尽管芯片的制造难度难以想象，但是当时的我们已经管不了那么多了，因为芯片已经成为了所有中国人的痛点，所以，制造属于中国人自己的芯片，乃是当下很着急的事情。对于芯片行业精密检测方面，上海岱珂机电设备有限公司为致力在线精密测量方案，岱珂机电是3D尺寸精密测量方案提供者。
岱珂控制器介绍：CCSOptima+控制器：●测量频率：高达10KHz；●高灵敏度，在多种样品上可以达到有效的高频率；●具备CCS系列控制器的所有优势；CCSPrima控制器：●当下行的光谱共聚焦控制器；●测量频率：高达2KHz；●CCD光电探测器，即便有非常高的信噪比；●2通道和4通道。多通道型号可供选择（传输时间<400ms）；●具备CCS系列控制器的所有优势VIZIR控制器；●高精度的比较好解决方案，非接触式晶片厚度测量；●近红外光谱带；●（测量频率）高达1KHZ；●距离和厚度模式；●数字输出：USB和RS232/RS422●2个0V-10V的模拟输出；●同步读取3个外部数字编码器；●由于特定的厚度校准，提高了厚度模式下的性能；●长寿命光源；●高级功能：“首要峰值”，“双倍频率”，“保持zui终值”，时间平均。岱珂机电可靠和直观的系统，使我们成为科学研究和工业客户的放心选择。
早在1965年，我国就研发出了国内前列芯片，那个时候，还没有ASML这样的巨头，即便是在半导体领域占尽优势的日本也只是刚刚进入这个领域之中。值得一提的是，那个时候我们不仅芯片是自主研发的，就连光刻机也是自己造的。那个时候，中科院就制造出了65型接触式光刻机。随后的20年之间，我们在芯片领域之中一直都是遥遥先进的，至少截止到1980年的时候，我们的芯片领域技术水平都是处于国际前沿的。要在芯片领域有所成就，必须下了决心深耕。上海岱珂机电设备有限公司为您提供光谱共焦位移传感器、面白光干涉仪、涂层测厚仪等精密仪器设备。岱珂机电为客户提供颠覆传统激光三角测距法，是在线精密测量方案、3D尺寸精密测量方案的提供者。上海岱珂5轴3D测量机： 搭配线激光或线光谱实现3D扫描测量，适用3C样品通用扫描(治具和标定块不同)。上海晶圆检测测量仪器
上海岱珂机电设备有限公司能测量手机配件尺寸。上海晶圆检测测量仪器
STIL控制器介绍
CCS Optima+控制器
●测量频率：高达10K Hz
●高灵敏度，在多种样品上可以达到有效的高频率
●具备CCS系列控制器的所有优势
CCS Prima控制器
●当下行的光谱共聚焦控制器
●测量频率：高达2K Hz
●CCD光电探测器，即便有非常高的信噪比
●2通道和4通道。多通道型号可供选择（传输时间<400ms）
●具备CCS系列控制器的所有优势
STIL-VIZIR控制器
●高精度的比较好解决方案，非接触式晶片厚度测量
●近红外光谱带
●（测量频率）高达1K HZ
●距离和厚度模式
●数字输出：USB和RS232/RS422
●2个0V-10V的模拟输出
●同步读取3个外部数字编码器
●由于特定的厚度校准，提高了厚度模式下的性能
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