STIL控制器介绍
CCS Optima+控制器
●测量频率:高达10K Hz
●高灵敏度,在多种样品上可以达到有效的高频率
●具备CCS系列控制器的所有优势
CCS Prima控制器
●当下行的光谱共聚焦控制器
●测量频率:高达2K Hz
●CCD光电探测器,即便有非常高的信噪比
●2通道和4通道。多通道型号可供选择(传输时间<400ms)
●具备CCS系列控制器的所有优势
STIL-VIZIR控制器
●高精度的比较好解决方案,非接触式晶片厚度测量
●近红外光谱带
●(测量频率)高达1K HZ
●距离和厚度模式
●数字输出:USB和RS232/RS422
●2个0V-10V的模拟输出
●同步读取3个外部数字编码器
●由于特定的厚度校准,提高了厚度模式下的性能
●长寿命光源,
●高级功能:“首要峰值”,“双倍频率”,“保持zui终值”,时间平均,上海非接触测量仪器厂家电话地址...,上海非接触测量仪器厂家电话地址.,上海非接触测量仪器厂家电话地址.. 我们的设备适用于各种基材上的各种涂料。上海非接触测量仪器厂家电话地址
STIL-“线”传感器的相关产品介绍
SCHEMATIC-原理
MP***M包含了180个**的光谱共聚焦通道,每个通道测量样品表面上的单个点,并包含自己的点源,针kong和光谱仪。
在MP***M中,控制器和光学头通过两个光纤速连接,第1台束将控制器的内部光源连接到镜头的入射面;180束光纤电缆的前列成为180个通道的点源。第二束连接光谱仪的输出平面;180根光纤电缆的前列实现了180个通道的针kong。
MP***M光谱共焦传感器
特征:
●市场上第1台台“线”光谱共聚焦传感器。
●投射到样品表面为一条线,由180个离散点组成,每点对应一条**测量通道
●比较大线率是2000 lines/秒
优势
●高速测量(360000点/秒)
●由于千兆以太网进行数据传输
●高fen辨率,高精度
●可测量任何材料
●对外部环境光线不敏感
●兼容所有光学头
●同步方式:主和从 上海非接触测量仪器厂家电话地址是法国STIL、Enovasense、德国Attocube Systeme AG等公司指定代理商。
共聚焦光谱成像技术以极高的分辨率提供可靠、精确和可再现的尺寸测量。什么是光谱共焦干涉仪?非接触式轮廓测量技术中的测量精度,通常受机械振动和微扫描台位置不准确的限制。为不再受此类环境干扰,STIL开发了对振动不敏感的全新干涉测量法。采用这种新型干涉仪系统,干涉仪显微镜的精度可达亚纳米级。光谱共焦干涉测量原理STIL干涉测量法基于白光干涉图(SAWLI)的光谱分析。它包括分析在光谱仪上观察到的干扰信号,以便测量参比板和样品之间的气隙厚度。成熟系统的**性在于将参考板固定在检测目标上。由于参考板和样品固定在一起,机械振动不会影响测量结果。此外,该传感器可用于测量太薄而不允许使用光谱共焦技术的透明薄膜。可测厚度为μm。
STIL DUO双重技术“点”传感器
●世界上初次个提供两种同时测量技术的系统:光谱共焦原理和具备原始共焦设置的白光光谱干涉原理。
●STIL的共焦彩色原理可测量范围从130um到42mm。非常适用于粗糙度和表面形貌测量,在任何类型的材料上都可获得非常高的精确度,无论是反射还是散射。测量符合新ISO 25178标准。
●STIL的共焦光谱干涉测量法,可获得亚纳米分辨率(<1nm)的厚度和形貌测量结果,可在大于100um的测量范围内进行测量,且样品的zui小可测厚度为0.4um。
●完美适用于工业环境,许多输入和输出以及软件开发套件,接口非常简单。
光谱共聚焦模式
●使用Multipeak软件进行多层样品测量
白光光谱干涉模式
●振动不敏感度(OPILB-RP光学笔)
●高信噪比(OPILB-RP光学笔)
●不需垂直扫描
●zui小可测厚度0.4um
●光学原理固有的亚纳米分辨率
●共焦使相邻点之间无干扰
●厚度测量上具有出色性能(0.3nm分辨率,10nm精度) 产品创新技术与激光相比,热量的延迟和衰减通过高级算法与厚度相关联。
近年来,随着工业化和城市化的快速发展,传感器以其高灵敏度和广 的应用受到越来越多的关注,如工业厂房排放监测、室内外环境污染检测、呼吸传感分析等领域,都需要用到各种气体传感器。同时,在物联网市场高速发展的背景下,传感器在智能家居、可穿戴设备、智能移动终端等领域的应用需求迅速增长。据相关报告显示,在全球市场中,传感器应用需求不断增长,2016-2021年将保持7.3%年均复合增长率上升,到2021年,全球气体传感器市场规模将达到9.2亿美元。司逖测量技术(上海)有限公司为您提供光谱共焦位移传感器,在线精密测量方案。司逖测量技术(上海)有限公司为客户提供颠覆传统激光三角测距法,全新测量原理的光谱共焦传感器,STIL来自法国的光谱共焦发明者,3D尺寸精密测量方案提供者。欢迎咨询! 欲了解更多检测案例,欢迎来电垂询。天津纳米级测量仪器排名靠前
工业环境下的在线质量检测、过程控制与逆向工程,STIL都可实现测量精密的测量方案。上海非接触测量仪器厂家电话地址
STIL控制器介绍
CCS Optima+控制器
●测量频率:高达10K Hz
●高灵敏度,在多种样品上可以达到有效的高频率
●具备CCS系列控制器的所有优势
CCS Prima控制器
●当下行的光谱共聚焦控制器
●测量频率:高达2K Hz
●CCD光电探测器,即便有非常高的信噪比
●2通道和4通道。多通道型号可供选择(传输时间<400ms)
●具备CCS系列控制器的所有优势
STIL-VIZIR控制器
●高精度的比较好解决方案,非接触式晶片厚度测量
●近红外光谱带
●(测量频率)高达1K HZ
●距离和厚度模式
●数字输出:USB和RS232/RS422
●2个0V-10V的模拟输出
●同步读取3个外部数字编码器
●由于特定的厚度校准,提高了厚度模式下的性能
●长寿命光源,
●高级功能:“首要峰值”,“双倍频率”,“保持**终值”,时间平均...... 上海非接触测量仪器厂家电话地址
司逖测量技术(上海)有限公司总部位于金湘路225弄11号1208,是一家仪器仪表, 光谱共焦位移传感器, 光谱共焦技术, 光谱共焦成像, 玻璃测量仪器, 透明材质测量仪器, 同轴测量仪器, 纳米级测量仪器, 厚度测量仪器, 色散共聚焦传感器, 3D玻璃测量, 精密测量, 段差测量, 厚度测量的公司。公司自创立以来,投身于光谱共焦位移传感器,玻璃测量仪器,光谱共焦传感器,纳米级测量仪器,是仪器仪表的主力军。司逖测量不断开拓创新,追求出色,以技术为先导,以产品为平台,以应用为重点,以服务为保证,不断为客户创造更高价值,提供更优服务。司逖测量始终关注仪器仪表行业。满足市场需求,提高产品价值,是我们前行的力量。
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