北京多层厚度测量仪器价格比较 诚信互利 司逖测量供

STIL DUO双重技术“点”传感器

●世界上初次个提供两种同时测量技术的系统：光谱共焦原理和具备原始共焦设置的白光光谱干涉原理。

●STIL的共焦彩色原理可测量范围从130um到42mm。非常适用于粗糙度和表面形貌测量，在任何类型的材料上都可获得非常高的精确度，无论是反射还是散射。测量符合新ISO 25178标准。

●STIL的共焦光谱干涉测量法，可获得亚纳米分辨率(<1nm)的厚度和形貌测量结果，北京多层厚度测量仪器价格比较，可在大于100um的测量范围内进行测量，北京多层厚度测量仪器价格比较，且样品的zui小可测厚度为0.4um。

●完美适用于工业环境，许多输入和输出以及软件开发套件，接口非常简单。

光谱共聚焦模式

●使用Multipeak软件进行多层样品测量

白光光谱干涉模式

●振动不敏感度（OPILB-RP光学笔）

●高信噪比（OPILB-RP光学笔）

●不需垂直扫描

●zui小可测厚度0.4um

●光学原理固有的亚纳米分辨率

●共焦使相邻点之间无干扰

●厚度测量上具有出色性能（0，北京多层厚度测量仪器价格比较.3nm分辨率，10nm精度） 充分了解客户实际需求。北京多层厚度测量仪器价格比较

配置”线”传感器的MICROMESURE 2系统

2014年产品：配置了MPLS180线传感器MICROMESURE 2

4个光学头可选：Nano View,Micro view,DeepView,WireView

由于MPLS180的高速测量，测量大面积表面的持续时间从几小时降低至几分钟，甚至几秒！

应用类型

• 形状及纹理分析

• 精密机械检测

• 表面特征分析

• 3D高度和厚度，形貌/轮廓

• 粗糙度测量

• 尺寸测量

应用领域

• 机械（粗糙度，摩擦力，3D计量，腐蚀分析...）

• 玻璃行业（浮动玻璃在线厚度检测，3D计量...）

• 微电子（粗糙度，3D计量，缺点分析...）

• 光学（粗糙度，3D计量...）

• 钟表（平整度，粗糙度，厚度...）

• 核燃料工业（粗糙度，摩擦度，3D计量，腐蚀分析...）

• 航空航天（粗糙度，涡轮形状）

选择：

• 后处理软件：来自图像技术的SPIP

• 用于实际3D测量的X&Y轴上的线性编码器（位置精确度=1μm/100mm）

• 录影机

• 用于更换光笔的简单刀塔或双刀塔

• 减震支架

• 1轴和2轴配置

• X&Y轴射程可达300mm（透明工作间不可用）

• Z轴射程可达100mm（透明工作间不可用）

计量工件：

• 校准槽（深度为10μm）

• 粗糙度标准（Ra=0.8μm）

• 光学平面（直径=140mm）

• 位移光罩（用于设置录影机偏移）

上海电子元器件形貌测量仪器制造商3D尺寸精密测量方案提供者。

STIL控制器介绍

CCS Optima+控制器

●测量频率：高达10K Hz

●高灵敏度，在多种样品上可以达到有效的高频率

●具备CCS系列控制器的所有优势

CCS Prima控制器

●当下行的光谱共聚焦控制器

●测量频率：高达2K Hz

●CCD光电探测器，即便有非常高的信噪比

●2通道和4通道。多通道型号可供选择（传输时间<400ms）

●具备CCS系列控制器的所有优势

STIL-VIZIR控制器

●高精度的比较好解决方案，非接触式晶片厚度测量

●近红外光谱带

●（测量频率）高达1K HZ

●距离和厚度模式

●数字输出：USB和RS232/RS422

●2个0V-10V的模拟输出

●同步读取3个外部数字编码器

●由于特定的厚度校准，提高了厚度模式下的性能

●长寿命光源，

●高级功能：“首要峰值”，“双倍频率”，“保持**终值”，时间平均...... STIL完美解决测量位置错位问题，欢迎咨询。

光谱共焦显微镜MC2视觉检测

       光谱共聚焦显微镜（STIL-SA的**）是一种允许设计大焦深（几毫米）光学系统的技术。对于扩展深度范围内的任何样品，这些系统都能提高清晰的、高质量和完美聚焦图像。该技术结合了光谱编码和传统共聚焦显微镜的优点。光谱共聚焦显微镜由多色光源照射的裂缝、高质量光谱透镜、光束分离器、线性B&W光电探测器组成。

STIL产品具有所有光谱共焦显微镜的优势

2014年产品提供4种光学头型号供选择：DeepView，MicroView，NanoView，WireView

双重作用：

●按照所需放大率，提供样本表面的高质量图片

●为检测和分析一些预定义特征或纹理特征，对图片经行处理

优势：

此技术结合线阵相机，形成了MC2视觉检测系统，完美地解决了传统机器视觉在表面瑕疵检测的痛点，具有明显的优势：

●无需外接光源照明，光谱共焦传感器的光源即为检测所需的同轴光源；

●环境光线的变化不影响成像效果，适应性强；

●适应所有的物体表面，无论是漫反射表面，镜面（高光面）或者透明体表面；

●高达80KHz的扫描速度，并可实现非常低的像素尺寸（zui小像素可达0.2X0.2μm²）；

●比较高可至2.6mm的高景深，在景深范围内的任何一个位置都是完美聚焦，成像更为清晰且无需进行z轴对焦。

STIL产品可实现实验室研究场合的高精度设备的完美检测。天津位移测量仪器价格比较

岱珂人秉持“亲和顾客”的价值规范，紧跟时代步伐。北京多层厚度测量仪器价格比较

相对人类视觉，视觉检测虽然在智能化和彩色识别能力方面还存在差距，在灰度分辨力、空间分辨力、速度、感光范围、环境要求以及观测精度等方面都存在 优势，尤其是在有害环境中或者重复性工作环境下，可节省大量人力， 提高产品检测效率。 由于视觉检测具有诸多优势，因此可应用场景 。目前视觉检测比较成熟的应用主要集中在定位、尺寸测量、OCR/OCV、特征有无等领域。 典型的是半导体行业，从上游晶圆加工制造的分类切割，到末端电路板印刷、贴片，都依赖于高精度的视觉测量对于运动部件的引导和定位，半导体制造行业对于视觉检测的需求占全行业市场需求的40%-50%。北京多层厚度测量仪器价格比较

司逖测量技术（上海）有限公司致力于仪器仪表，以科技创新实现***管理的追求。司逖测量作为仪器仪表, 光谱共焦位移传感器, 光谱共焦技术, 光谱共焦成像, 玻璃测量仪器, 透明材质测量仪器, 同轴测量仪器, 纳米级测量仪器, 厚度测量仪器, 色散共聚焦传感器, 3D玻璃测量, 精密测量, 段差测量, 厚度测量的企业之一，为客户提供良好的光谱共焦位移传感器，玻璃测量仪器，光谱共焦传感器，纳米级测量仪器。司逖测量致力于把技术上的创新展现成对用户产品上的贴心，为用户带来良好体验。司逖测量始终关注仪器仪表行业。满足市场需求，提高产品价值，是我们前行的力量。