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光谱共焦显微镜MC2视觉检测

       光谱共聚焦显微镜（STIL-SA的**）是一种允许设计大焦深（几毫米）光学系统的技术。对于扩展深度范围内的任何样品，这些系统都能提高清晰的、高质量和完美聚焦图像。该技术结合了光谱编码和传统共聚焦显微镜的优点。光谱共聚焦显微镜由多色光源照射的裂缝、高质量光谱透镜、光束分离器、线性B&W光电探测器组成。

STIL产品具有所有光谱共焦显微镜的优势

2014年产品提供4种光学头型号供选择：DeepView，MicroView，NanoView，WireView

双重作用：

●按照所需放大率，提供样本表面的高质量图片

●为检测和分析一些预定义特征或纹理特征，对图片经行处理

优势：

此技术结合线阵相机，形成了MC2视觉检测系统，完美地解决了传统机器视觉在表面瑕疵检测的痛点，具有明显的优势：

●无需外接光源照明，光谱共焦传感器的光源即为检测所需的同轴光源；

●环境光线的变化不影响成像效果，适应性强；

●适应所有的物体表面，无论是漫反射表面，镜面（高光面）或者透明体表面；

●高达80KHz的扫描速度，并可实现非常低的像素尺寸（zui小像素可达0，上海磨损体积测量仪器制造商.2X0，上海磨损体积测量仪器制造商.2μm²）；

●比较高可至2.6mm的高景深，上海磨损体积测量仪器制造商，在景深范围内的任何一个位置都是完美聚焦，成像更为清晰且无需进行z轴对焦。

工业环境下的在线质量检测、过程控制与逆向工程，STIL都可实现测量精密的测量方案。上海磨损体积测量仪器制造商

STIL-司逖测量技术（上海）有限公司是光谱共焦测量方法，利用色差透镜偏差这种物理现象的特点。通过使用特殊透镜，延长不同颜色光的焦点光晕范围，形成特殊放大色差，使其根据不同的被测物体到透镜的距离，会对应一个精确波长的光聚焦到被测物体上。通过测量反射光的波长，就可以得到被测物体到透镜的精确距离。这一过程与摄影器材通过各种方法，消减色差的过程正好相反。

为了得到上述特殊的色差，需要在传感器探头内使用若干特殊透镜，用来根据所需量程将光线分解。zui后使用一个凸透镜，将传感器探头射出的光线聚拢在一条轴线上，形成所谓的焦点轴线。如果不使用凸透镜，传感器探头射出的光将分散开来，测量也就无法进行了。

上海手机表面缝隙测量仪器价格比较STIL来自法国的光谱共焦发明者。

精密传感解决方案至关重要

工业自动化解决方案通常依靠位置感应来确认零件和设备是否放置在正确的位置。标准应用可以包括检测传送带上是否有盒子或门是否关闭。用于此目的的zui基本的产品分别是限位开关和接近开关，它们在许多情况下都是极好的选择。

但是，对于许多行业而言，标准还远远不够。在某些机加工应用中，可能有必要达到以百分之一毫米或更高的百分率测量的可重复位置感测精度。这是因为高科技制造经常需要高精度的位置感应。

尽管选择了更为严格的级别，但负责选择高精度传感器的设计人员将使用许多适用于标准传感器的相同概念。同样，高精度传感器引入了一些必须解决的其他注意事项。

无论是检测线性位置还是角度位置，可重复性都是确定位置切换精度的关键。重复性公差小，意味着每次在规定的重复性范围内的给定位置触发开关时，开关都会做出相同的响应。

司逖测量技术（上海）有限公司为您提供光谱共焦位移传感器，在线精密测量方案。司逖测量技术（上海）有限公司为客户提供颠覆传统激光三角测距法，全新测量原理的光谱共焦传感器，STIL来自法国的光谱共焦发明者，3D尺寸精密测量方案提供者。

图像处理单元由图像处理软件完成，图像处理软件包含大量图像处理算法。在取得图像后，用这些算法对数字图像进行处理，分析计算，并输出结果。软件是机器视觉的大脑，只有在软件将采集到的图像数据化以后，机器才能进行识别和检测等功能。光源是机器视觉系统中重要的组件之一，一个合适的光源是机器视觉系统正常运行的必备条件。使用光源的目的是将被测物体与背景尽量明显分别，获得***、高对比度的图像。

镜头的作用是光学成像。尽管照相机、分析软件和照明对于机器视觉系统都是十分重要的，可 关键的元件还是相机镜头。系统若想完全发挥其功能，镜头必须要能够满足要求才行。决定镜头性能的参数主要有焦距，工作距离、视场、景深、分辨率等。景深，是指镜头能够获得比较好图像时，被摄物体离此比较好焦点前后的距范围。视场，表示摄像头所能观测到的比较大范围，通常以角度表示，一般说来视场越大，观测范围越大。工作距离，是指镜头到被摄物体的距离，工作距离越长，成本越高。 STIL光谱共焦传感器可测量分析物体表面细微结构、形状及纹理粗糙度的测量分析。

STIL DUO双重技术“点”传感器

●世界上初次个提供两种同时测量技术的系统：光谱共焦原理和具备原始共焦设置的白光光谱干涉原理。

●STIL的共焦彩色原理可测量范围从130um到42mm。非常适用于粗糙度和表面形貌测量，在任何类型的材料上都可获得非常高的精确度，无论是反射还是散射。测量符合新ISO 25178标准。

●STIL的共焦光谱干涉测量法，可获得亚纳米分辨率(<1nm)的厚度和形貌测量结果，可在大于100um的测量范围内进行测量，且样品的zui小可测厚度为0.4um。

●完美适用于工业环境，许多输入和输出以及软件开发套件，接口非常简单。

光谱共聚焦模式

●使用Multipeak软件进行多层样品测量

白光光谱干涉模式

●振动不敏感度（OPILB-RP光学笔）

●高信噪比（OPILB-RP光学笔）

●不需垂直扫描

●zui小可测厚度0.4um

●光学原理固有的亚纳米分辨率

●共焦使相邻点之间无干扰

●厚度测量上具有出色性能（0.3nm分辨率，10nm精度） 欲了解更多检测案例，欢迎来电垂询。上海磨损体积测量仪器制造商

STIL的超新技术——颠覆传统激光三角测距法的光谱共焦技术。上海磨损体积测量仪器制造商

机器视觉相机（“眼球”）的目的是将通过镜头投影到传感器的图像传送到能够储存、分析和（或者）显示的机器设备上。按照芯片类型可以分为CCD相机、CMOS相机。图像采集单元中 重要的元件是图像采集卡，它是图像采集部分和图像处理部分的接口。在完成图像采集和处理工作之后，需要将图像处理的结果输出，并作出与结果匹配的动作，如剔废、报警灯，并通过人机界面显示生产信息。算法可谓是机器视觉的 了，企业竞争力也主要体现在算法上．好的算法，运行速度快，检测精度高，在市场上自然具有较强的竞争力．因此，在企业中，都在 算法上下功夫，形成自己的竞争力。上海磨损体积测量仪器制造商

司逖测量技术（上海）有限公司总部位于金湘路225弄11号1208，是一家仪器仪表, 光谱共焦位移传感器, 光谱共焦技术, 光谱共焦成像, 玻璃测量仪器, 透明材质测量仪器, 同轴测量仪器, 纳米级测量仪器, 厚度测量仪器, 色散共聚焦传感器, 3D玻璃测量, 精密测量, 段差测量, 厚度测量的公司。司逖测量作为仪器仪表, 光谱共焦位移传感器, 光谱共焦技术, 光谱共焦成像, 玻璃测量仪器, 透明材质测量仪器, 同轴测量仪器, 纳米级测量仪器, 厚度测量仪器, 色散共聚焦传感器, 3D玻璃测量, 精密测量, 段差测量, 厚度测量的企业之一，为客户提供良好的光谱共焦位移传感器，玻璃测量仪器，光谱共焦传感器，纳米级测量仪器。司逖测量始终以本分踏实的精神和必胜的信念，影响并带动团队取得成功。司逖测量始终关注仪器仪表行业。满足市场需求，提高产品价值，是我们前行的力量。