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上海亚微米级光谱共焦位移传感器 来电咨询 司逖测量供

上传时间:2021-02-01 浏览次数:
文章摘要:STILDUO双重技术“点”传感器●世界上初次个提供两种同时测量技术的系统:光谱共焦原理和具备原始共焦设置的白光光谱干涉原理。●STIL的共焦彩色原理可测量范围从130um到42mm。非常适用于粗糙度和表面形貌测量,上海亚微米级光

STIL DUO双重技术“点”传感器


●世界上初次个提供两种同时测量技术的系统:光谱共焦原理和具备原始共焦设置的白光光谱干涉原理。

●STIL的共焦彩色原理可测量范围从130um到42mm。非常适用于粗糙度和表面形貌测量,上海亚微米级光谱共焦位移传感器,在任何类型的材料上都可获得非常高的精确度,无论是反射还是散射。测量符合新ISO 25178标准。

●STIL的共焦光谱干涉测量法,可获得亚纳米分辨率(<1nm)的厚度和形貌测量结果,可在大于100um的测量范围内进行测量,且样品的zui小可测厚度为0.4um。

●完美适用于工业环境,许多输入和输出以及软件开发套件,接口非常简单,上海亚微米级光谱共焦位移传感器。


光谱共聚焦模式

●使用Multipeak软件进行多层样品测量


白光光谱干涉模式

●振动不敏感度(OPILB-RP光学笔

●高信噪比(OPILB-RP光学笔

●不需垂直扫描

●zui小可测厚度0,上海亚微米级光谱共焦位移传感器.4um

●光学原理固有的亚纳米分辨率

●共焦使相邻点之间无干扰

●厚度测量上具有出色性能(0.3nm分辨率,10nm精度 STIL拥有全球**光谱共焦技术优势。上海亚微米级光谱共焦位移传感器

点传感器的相关软件说明


CCS Manager

●一个非常强大的可执行程序,允许在段时间内使用CCS、STIL-DUO或STIL-VIZIR传感器进行测量。

●拥有非常友好的人机界面,容易取得精确测量结果,且对CCS传感器进行相关设置操作。

●可升级传感器固件,以便获得即时优化和STIL工程师开发的即时功能

●控制器的现场校准

●下载传感器的校准表,以便CCS控制器配置使用更多光学笔

●特别的的“诊断”功能,允许记录传感器的当前状态到文件。可以直接发送到STIL的应用与支持部门。


DLL

●提供一种强大的软件开发工具包,使STIL传感器很容易和客户应用进行对接。其主要功能:

●初始化并且通过RS232、以太网、或USB连接传感器

●接收/设置传感器配置,如:采样率、测量模式(距离/厚度)、光学笔选择、数据输出设置、模拟输出设置

●测量传感器“暗”信号

●启用禁用硬件触发模式

●通过其他程序启动测量

●与其他程序同步测量

●获取传感器状态和“ **终报错”参数


多层测厚软件

●STIL-DUO传感器的多峰软件,允许测量多层透明样本的厚度(可达10层


北京原装进口传感器推荐STIL光谱共焦传感器不产生温度和能量,不受环境光源影响。

光谱共焦位移传感器——线传感器


MP***M线扫描传感器

MP***M控制器,是市场上首台“线”光谱共聚焦传感器。

包含了180个**的光谱共聚焦通道。 每个通道测量样品表面上的单个点,并包含自己的点源,zhen孔和光谱仪。  

在MP***M中,控制器和光学头通过两个光纤束连接。

首束将控制器的内部光源连接到镜头的入射面; 180束光纤电缆的前列成为180个通道的点源。

第二束连接光谱仪的输出平面; 180根光纤电缆的前列实现了180个通道的zhen孔。


MP***M控制器——技术特点

l 市场上首台“线”光谱共聚焦传感器 

l 投射到样品表面为一条线,由180个离散点组成,每点对应一条**测量通道 

l 比较大线率是2000 lines/秒

l 高工作量(360000点/秒)

l 由千兆以太网进行数据传输

l gao分辨率,高精度

l 可测量任何材料

l 对外部环境光线不敏感

l 兼容所有光学头

l 同步方式:主和从

l 借助DLL工具,易于管理



在品质检测环节,除了可测量的物理参数能单立或集成在操作动作的视觉处理部分,与机器动作一起完成外,与光学信息有关的外观检查部份,特别是涉及到人眼视觉感观的光学检查部分,行业的人工智能应用发展极为缓慢。而人眼视觉感观的光学检查部分人工智能功能缺失,也是整个智能制造技术中, 难攻克的环节之一。国际消费类电子产业快速往中国转移的一个重大原因,除了中国劳动力成本较低外,消费类电子领域的产品品质控制,很少没有涉及到人眼视觉感观的光学检查部分。特别是配备有触摸显示器件的电子产品,需要数量庞大的外观检测熟练员工,才能支撑起每年数十亿数量的产能规模,从某种意义上来说,目前也只有中国才能满足全球市场在这方面的海量需求。金属、玻璃、陶瓷、半导体、塑料、织物等任何材料的物体STIL光谱共焦传感器都可轻松测量。

对非预期缺点的识别,在应用中,往往是给定一些具体的缺点模式,使用机器视觉来识别它们到底有没有发生,但经常遇到的情况是,许多明显的缺点,因为之前没有发生过,或者发生的模式过分多样,而被漏检。如果换做是人,虽然在操作流程文件中没让他去检测这个缺点,但是他会注意到,从而有较大几率抓住它,而机器视觉在这点上的“智慧”目前还较难突破。机器视觉是一门学科技术,是一门涉及人工智能、神经生物学、心理物理学、计算机科学、图像处理、模式识别等诸多领域的交叉学科。机器视觉是指利用相机、摄像机等传感器,配合机器视觉算法赋予智能设备人眼的功能,从而进行物体的识别、检测、测量等功能。司逖测量技术(上海)有限公司,线上测量方案提供!天津色散共焦传感器预算

光谱共焦传感器行业**——司逖测量技术(上海)有限公司。上海亚微米级光谱共焦位移传感器

3D测量系统MICROMESURE2


配置“点”传感器的MICROMESURE 2系统

MICROMESURE 2系统,配置CCS-PRIMA,STIL-DUO传感器,是非接触式表面测量的理想工具,包含3D粗糙度,形状测量和3D微观形貌。

MICROMESURE 2系统,充分利用了STIL非接触式传感器在各种应用和领域的***性能。

与配套的控制&采集硬件和软件一起交付,MICROMESURE 2系统是一套整机,启动后立刻执行(指令)。


借助光谱共焦传感器

●非接触式尺寸测量

●纳米和微米分辨

●白光传感器(***点,大测量范围)

●同轴测量(无阴影)

●镜面上的高局部斜率(反射式)

●对环境光不敏感

●可测量金属,玻璃,半导体,陶瓷和其他更多材料

●透明物体的厚度测量方式

●具有大测量范围能力(20μm-24mm)


借助高质量的扫描系统

●Z轴0.1μm编码器(系列产品)

●X&Y轴0.1μm编码器(可选择)

●低震动

●正交性和平面度校正

●透明的作业空间,避免气流震荡 上海亚微米级光谱共焦位移传感器

司逖测量技术(上海)有限公司是一家仪器仪表, 光谱共焦位移传感器, 光谱共焦技术, 光谱共焦成像, 玻璃测量仪器, 透明材质测量仪器, 同轴测量仪器, 纳米级测量仪器, 厚度测量仪器, 色散共聚焦传感器, 3D玻璃测量, 精密测量, 段差测量, 厚度测量的公司,是一家集研发、设计、生产和销售为一体的专业化公司。司逖测量拥有一支经验丰富、技术创新的专业研发团队,以高度的专注和执着为客户提供光谱共焦位移传感器,玻璃测量仪器,光谱共焦传感器,纳米级测量仪器。司逖测量致力于把技术上的创新展现成对用户产品上的贴心,为用户带来良好体验。司逖测量始终关注仪器仪表行业。满足市场需求,提高产品价值,是我们前行的力量。

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