STIL DUO双重技术“点”传感器
●世界上初次个提供两种同时测量技术的系统：光谱共焦原理和具备原始共焦设置的白光光谱干涉原理。
●STIL的共焦彩色原理可测量范围从130um到42mm。非常适用于粗糙度和表面形貌测量，在任何类型的材料上都可获得非常高的精确度，无论是反射还是散射。测量符合新ISO 25178标准。
●STIL的共焦光谱干涉测量法，可获得亚纳米分辨率(<1nm)的厚度和形貌测量结果，可在大于100um的测量范围内进行测量，且样品的zui小可测厚度为0.4um。
●完美适用于工业环境，许多输入和输出以及软件开发套件，接口非常简单。
光谱共聚焦模式
●使用Multipeak软件进行多层样品测量
白光光谱干涉模式
●振动不敏感度（OPILB-RP光学笔）
●高信噪比（OPILB-RP光学笔）
●不需垂直扫描
●zui小可测厚度0.4um
●光学原理固有的亚纳米分辨率
●共焦使相邻点之间无干扰
●厚度测量上具有出色性能（0，上海外形尺寸测量仪器规格型号，上海外形尺寸测量仪器规格型号.3nm分辨率，上海外形尺寸测量仪器规格型号，10nm精度） 法国直销，全球专利，创新技术。上海外形尺寸测量仪器规格型号
们为了从外界获取信息，必须借助于感觉***。传感器汇总图片精选(6张)而单靠人们自身的感觉***，在研究自然现象和规律以及生产活动中它们的功能就远远不够了。为适应这种情况，就需要传感器。因此可以说，传感器是人类五官的延长，又称之为电五官。新技术**的到来，世界开始进入信息时代。在利用信息的过程中，首先要解决的就是要获取准确可靠的信息，而传感器是获取自然和生产领域中信息的主要途径与手段。在现代工业生产尤其是自动化生产过程中，要用各种传感器来监视和控制生产过程中的各个参数，使设备工作在正常状态或比较好状态，并使产品达到比较好的质量。因此可以说，没有众多的优良的传感器，现代化生产也就失去了基础。
司逖测量技术（上海）有限公司为您提供光谱共焦位移传感器，在线精密测量方案。
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分布式传感是一种可用于同时执行远程空间多个节点上精密测量任务的重要手段，在日常生活、科学研究和工程等领域有着***的应用。量子网络作为量子信息和量子计算的重要组成，在执行各类远程多节点任务中起着重要作用。当对多个空间分布的参量进行测量时，分布式量子传感能够实现超越经典统计极限的测量精度。司逖测量技术（上海）有限公司为客户提供颠覆传统激光三角测距法，全新测量原理的光谱共焦传感器，STIL来自法国的光谱共焦发明者，3D尺寸精密测量方案提供者。
共聚焦光谱成像技术以较高的分辨率提供可靠、精确和可再现的尺寸测量。什么是光谱共焦干涉仪？非接触式轮廓测量技术中的测量精度，通常受机械振动和微扫描台位置不准确的限制。为不再受此类环境干扰，STIL开发了对振动不敏感的全新干涉测量法。采用这种新型干涉仪系统，干涉仪显微镜的精度可达亚纳米级。光谱共焦干涉测量原理STIL干涉测量法基于白光干涉图（SAWLI）的光谱分析。它包括分析在光谱仪上观察到的干扰信号，以便测量参比板和样品之间的气隙厚度。成熟系统的**性在于将参考板固定在检测目标上。由于参考板和样品固定在一起，机械振动不会影响测量结果。此外，该传感器可用于测量太薄而不允许使用光谱共焦技术的透明薄膜。可测厚度为μm。光谱共聚焦显微镜（STIL-SA的专利）MC2视觉检测能提供清晰、高质量和完美聚焦的图像。
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STIL-司逖测量技术（上海）有限公司是光谱共焦测量方法，利用色差透镜偏差这种物理现象的特点。通过使用特殊透镜，延长不同颜色光的焦点光晕范围，形成特殊放大色差，使其根据不同的被测物体到透镜的距离，会对应一个精确波长的光聚焦到被测物体上。通过测量反射光的波长，就可以得到被测物体到透镜的精确距离。这一过程与摄影器材通过各种方法，消减色差的过程正好相反。
为了得到上述特殊的色差，需要在传感器探头内使用若干特殊透镜，用来根据所需量程将光线分解。zui后使用一个凸透镜，将传感器探头射出的光线聚拢在一条轴线上，形成所谓的焦点轴线。如果不使用凸透镜，传感器探头射出的光将分散开来，测量也就无法进行了。
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司逖测量技术（上海）有限公司总部位于金湘路225弄11号1208，是一家仪器仪表, 光谱共焦位移传感器, 光谱共焦技术, 光谱共焦成像, 玻璃测量仪器, 透明材质测量仪器, 同轴测量仪器, 纳米级测量仪器, 厚度测量仪器, 色散共聚焦传感器, 3D玻璃测量, 精密测量, 段差测量, 厚度测量的公司。公司自创立以来，投身于光谱共焦位移传感器，玻璃测量仪器，光谱共焦传感器，纳米级测量仪器，是仪器仪表的主力军。司逖测量致力于把技术上的创新展现成对用户产品上的贴心，为用户带来良好体验。司逖测量创始人郑健平，始终关注客户，创新科技，竭诚为客户提供良好的服务。
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