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上传时间:2021-03-12 浏览次数:
文章摘要:3D测量系统MICROMESURE2配置“点”传感器的MICROMESURE2系统MICROMESURE2系统,配置CCS-PRIMA,STIL-DUO传感器,是非接触式表面测量的理想工具,包含3D粗糙度,形状测量和3D微观形貌。

3D测量系统MICROMESURE2


配置“点”传感器的MICROMESURE 2系统

MICROMESURE 2系统,配置CCS-PRIMA,STIL-DUO传感器,是非接触式表面测量的理想工具,包含3D粗糙度,形状测量和3D微观形貌。

MICROMESURE 2系统,充分利用了STIL非接触式传感器在各种应用和领域的***性能。

与配套的控制&采集硬件和软件一起交付,MICROMESURE 2系统是一套整机,启动后立刻执行(指令)。


借助光谱共焦传感器

●非接触式尺寸测量

●纳米和微米分辨

●白光传感器(***点,大测量范围)

●同轴测量(无阴影)

●镜面上的高局部斜率(反射式)

●对环境光不敏感

●可测量金属,玻璃,天津同轴测量仪器技术指导,天津同轴测量仪器技术指导,半导体,天津同轴测量仪器技术指导,陶瓷和其他更多材料

●透明物体的厚度测量方式

●具有大测量范围能力(20μm-24mm)

借助高质量的扫描系统

●Z轴0.1μm编码器(系列产品)

●X&Y轴0.1μm编码器(可选择)

●低震动

●正交性和平面度校正

●透明的作业空间,避免气流震荡 司逖测量技术(上海)有限公司是法国STIL公司在中国的销售公司。天津同轴测量仪器技术指导

       共聚焦光谱成像技术以较高的分辨率提供可靠、精确和可再现的尺寸测量。什么是光谱共焦干涉仪?非接触式轮廓测量技术中的测量精度,通常受机械振动和微扫描台位置不准确的限制。为不再受此类环境干扰,STIL开发了对振动不敏感的全新干涉测量法。采用这种新型干涉仪系统,干涉仪显微镜的精度可达亚纳米级。光谱共焦干涉测量原理STIL干涉测量法基于白光干涉图(SAWLI)的光谱分析。它包括分析在光谱仪上观察到的干扰信号,以便测量参比板和样品之间的气隙厚度。成熟系统的**性在于将参考板固定在检测目标上。由于参考板和样品固定在一起,机械振动不会影响测量结果。此外,该传感器可用于测量太薄而不允许使用光谱共焦技术的透明薄膜。可测厚度为μm。上海高精度测量仪器哪个牌子好岱珂致力于壮大业已打造的自动化精密测量技术平台。

司逖测量技术(上海)有限公司拥有多种传感器,涵盖了移动/可穿戴设备,汽车,家电/医疗保健和能源等领域。司逖测量技术(上海)有限公司通过多种传感器和传感器系统的产品组合和解决方案的不断创新,支持您的事业!司逖STIL位移传感器,为您解决测量难题,***提高生产效率,为您提供***高精度在线检测方案,**上门测试服务,**试用,售前售后***支持,安装简单,直接技术支持,司逖测量技术(上海)有限公司为您解决各种测量问题。

STIL-司逖测量技术(上海)有限公司是光谱共焦测量方法,利用色差透镜偏差这种物理现象的特点。通过使用特殊透镜,延长不同颜色光的焦点光晕范围,形成特殊放大色差,使其根据不同的被测物体到透镜的距离,会对应一个精确波长的光聚焦到被测物体上。通过测量反射光的波长,就可以得到被测物体到透镜的精确距离。这一过程与摄影器材通过各种方法,消减色差的过程正好相反。

为了得到上述特殊的色差,需要在传感器探头内使用若干特殊透镜,用来根据所需量程将光线分解。zui后使用一个凸透镜,将传感器探头射出的光线聚拢在一条轴线上,形成所谓的焦点轴线。如果不使用凸透镜,传感器探头射出的光将分散开来,测量也就无法进行了。


测量头便于在线非接触式测量,紧凑轻便,即插即用。

“点”传感器的相关产品介绍急术语解释:

光斑尺寸(Spot Size):指理论上的光斑尺寸,用于计算聚焦的波长(指示值)。

测量范围(Measuring Range,简称MR):又叫测量行程,指0到比较大可量测值的区间范围。标定测量范围是针对上述表格中的特定控制器。在降低性能的情况下也可以加大标定的行程。

工作距离(Working Distance,简称WD):是光学笔前端到量程近端的距离。

比较大采样斜率(Max.Sample slope,简称MSS):是光轴和样品表面的法线之间的比较大角度,在此角度下测量依然有效。



无论什么颜色,物体表面是漫反射或者高光面,乃至于镜面,STIL光谱共焦传感器都可轻松测量。北京手机面板油墨厚度测量仪器技术指导

多点式传感器、“点”传感器、线光谱、3D系统构成STIL产品的高性能高质量体系。天津同轴测量仪器技术指导

精密传感解决方案至关重要

工业自动化解决方案通常依靠位置感应来确认零件和设备是否放置在正确的位置。标准应用可以包括检测传送带上是否有盒子或门是否关闭。用于此目的的zui基本的产品分别是限位开关和接近开关,它们在许多情况下都是极好的选择。

但是,对于许多行业而言,标准还远远不够。在某些机加工应用中,可能有必要达到以百分之一毫米或更高的百分率测量的可重复位置感测精度。这是因为高科技制造经常需要高精度的位置感应。

尽管选择了更为严格的级别,但负责选择高精度传感器的设计人员将使用许多适用于标准传感器的相同概念。同样,高精度传感器引入了一些必须解决的其他注意事项。

无论是检测线性位置还是角度位置,可重复性都是确定位置切换精度的关键。重复性公差小,意味着每次在规定的重复性范围内的给定位置触发开关时,开关都会做出相同的响应。

司逖测量技术(上海)有限公司为您提供光谱共焦位移传感器,在线精密测量方案。司逖测量技术(上海)有限公司为客户提供颠覆传统激光三角测距法,全新测量原理的光谱共焦传感器,STIL来自法国的光谱共焦发明者,3D尺寸精密测量方案提供者。 天津同轴测量仪器技术指导

司逖测量技术(上海)有限公司主要经营范围是仪器仪表,拥有一支专业技术团队和良好的市场口碑。公司自成立以来,以质量为发展,让匠心弥散在每个细节,公司旗下光谱共焦位移传感器,玻璃测量仪器,光谱共焦传感器,纳米级测量仪器深受客户的喜爱。公司注重以质量为中心,以服务为理念,秉持诚信为本的理念,打造仪器仪表良好品牌。在社会各界的鼎力支持下,持续创新,不断铸造***服务体验,为客户成功提供坚实有力的支持。

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