北京电子元器件形貌测量仪器排名靠前 和谐共赢 司逖测量供

STIL控制器介绍

CCS Optima+控制器

●测量频率：高达10K Hz

●高灵敏度，在多种样品上可以达到有效的高频率

●具备CCS系列控制器的所有优势

CCS Prima控制器

●当下行的光谱共聚焦控制器

●测量频率：高达2K Hz

●CCD光电探测器，即便有非常高的信噪比

●2通道和4通道。多通道型号可供选择（传输时间<400ms）

●具备CCS系列控制器的所有优势

STIL-VIZIR控制器

●高精度的比较好解决方案，非接触式晶片厚度测量

●近红外光谱带

●（测量频率）高达1K HZ

●距离和厚度模式

●数字输出：USB和RS232/RS422

●2个0V-10V的模拟输出

●同步读取3个外部数字编码器

●由于特定的厚度校准，提高了厚度模式下的性能

●长寿命光源，

●高级功能：“首要峰值”，北京电子元器件形貌测量仪器排名靠前，“双倍频率”，“保持zui终值”，时间平均..，北京电子元器件形貌测量仪器排名靠前...，北京电子元器件形貌测量仪器排名靠前. 岱珂机电，我们致力实现纳米科学的技术进步。北京电子元器件形貌测量仪器排名靠前

光谱共焦显微镜MC2视觉检测

      光谱共聚焦显微镜（STIL-SA的专利）是一种允许设计大焦深（几毫米）光学系统的技术。对于扩展深度范围内的任何样品，这些系统都能提高清晰的、高质量和完美聚焦图像。该技术结合了光谱编码和传统共聚焦显微镜的优点。光谱共聚焦显微镜由多色光源照射的裂缝、高质量光谱透镜、光束分离器、线性B&W光电探测器组成。

STIL产品具有所有光谱共焦显微镜的优势

2014年产品提供4种光学头型号供选择：DeepView，MicroView，NanoView，WireView

双重作用：

●按照所需放大率，提供样本表面的高质量图片

●为检测和分析一些预定义特征或纹理特征，对图片经行处理

优势：

此技术结合线阵相机，形成了MC2视觉检测系统，完美地解决了传统机器视觉在表面瑕疵检测的痛点，具有明显的优势：

●无需外接光源照明，光谱共焦传感器的光源即为检测所需的同轴光源；

●环境光线的变化不影响成像效果，适应性强；

●适应所有的物体表面，无论是漫反射表面，镜面（高光面）或者透明体表面；

●高达80KHz的扫描速度，并可实现非常低的像素尺寸（zui小像素可达0.2X0.2μm²）；

●比较高可至2.6mm的高景深，在景深范围内的任何一个位置都是完美聚焦，成像更为清晰且无需进行z轴对焦。 上海位移测量仪器STIL产品可实现实验室研究场合的高精度设备的完美检测。

STIL-“线”传感器的相关产品介绍

SCHEMATIC-原理

       MP***M包含了180个**的光谱共聚焦通道，每个通道测量样品表面上的单个点，并包含自己的点源，针kong和光谱仪。

      在MP***M中，控制器和光学头通过两个光纤速连接，第1台束将控制器的内部光源连接到镜头的入射面；180束光纤电缆的前列成为180个通道的点源。第二束连接光谱仪的输出平面；180根光纤电缆的前列实现了180个通道的针kong。

MP***M光谱共焦传感器

特征：

●市场上第1台台“线”光谱共聚焦传感器。

●投射到样品表面为一条线，由180个离散点组成，每点对应一条**测量通道

●比较大线率是2000 lines/秒

优势

●高速测量（360000点/秒）

●由于千兆以太网进行数据传输

●高fen辨率，高精度

●可测量任何材料

●对外部环境光线不敏感

●兼容所有光学头

●同步方式：主和从

图像处理单元由图像处理软件完成，图像处理软件包含大量图像处理算法。在取得图像后，用这些算法对数字图像进行处理，分析计算，并输出结果。软件是机器视觉的大脑，只有在软件将采集到的图像数据化以后，机器才能进行识别和检测等功能。光源是机器视觉系统中重要的组件之一，一个合适的光源是机器视觉系统正常运行的必备条件。使用光源的目的是将被测物体与背景尽量明显分别，获得***、高对比度的图像。

镜头的作用是光学成像。尽管照相机、分析软件和照明对于机器视觉系统都是十分重要的，可 关键的元件还是相机镜头。系统若想完全发挥其功能，镜头必须要能够满足要求才行。决定镜头性能的参数主要有焦距，工作距离、视场、景深、分辨率等。景深，是指镜头能够获得比较好图像时，被摄物体离此比较好焦点前后的距范围。视场，表示摄像头所能观测到的比较大范围，通常以角度表示，一般说来视场越大，观测范围越大。工作距离，是指镜头到被摄物体的距离，工作距离越长，成本越高。 根据产品定制不同的测量方案。

对检测仪器必须严格遵守操作规程和注意事项。使用完检测仪器后及时回复原状，将设备擦拭干净，并及时清点设备配件，整理填写使用记录。 及时排除和发现仪器问题，不得带病运行，要及时排除故障，对于正常设备合理使用，避免人为损害仪器。

大型精密仪器设备的操作者，必须经过适当的理论操作培训，培训合格后方可上岗，不经过培训的人员不准随意使用。操作人员应严格按照仪器设备的操作规程操作，并在使用前、使用中、使用后作好必要的检查和记录，同时应做好日常维护保养工作，使用频次较少的大型仪器设备及长期不用的电子仪器，每月应至少开机检查一次，并做好维护保养记录。 法国STIL公司开发了从1.8mm到45mm的线长不同测量行程的线光谱共焦传感器这一系列产品。上海位移测量仪器

无论什么颜色，物体表面是漫反射或者高光面，乃至于镜面，STIL光谱共焦传感器都可轻松测量。北京电子元器件形貌测量仪器排名靠前

3D测量系统MICROMESURE2

配置“点”传感器的MICROMESURE 2系统

MICROMESURE 2系统，配置CCS-PRIMA,STIL-DUO传感器，是非接触式表面测量的理想工具，包含3D粗糙度，形状测量和3D微观形貌。

MICROMESURE 2系统，充分利用了STIL非接触式传感器在各种应用和领域的***性能。

与配套的控制&采集硬件和软件一起交付，MICROMESURE 2系统是一套整机，启动后立刻执行（指令）。

借助光谱共焦传感器

●非接触式尺寸测量

●纳米和微米分辨

●白光传感器（***点，大测量范围）

●同轴测量（无阴影）

●镜面上的高局部斜率（反射式）

●对环境光不敏感

●可测量金属，玻璃，半导体，陶瓷和其他更多材料

●透明物体的厚度测量方式

●具有大测量范围能力（20μm-24mm）

借助高质量的扫描系统

●Z轴0.1μm编码器（系列产品）

●X&Y轴0.1μm编码器（可选择）

●低震动

●正交性和平面度校正

●透明的作业空间，避免气流震荡 北京电子元器件形貌测量仪器排名靠前

司逖测量技术（上海）有限公司总部位于金湘路225弄11号1208，是一家仪器仪表, 光谱共焦位移传感器, 光谱共焦技术, 光谱共焦成像, 玻璃测量仪器, 透明材质测量仪器, 同轴测量仪器, 纳米级测量仪器, 厚度测量仪器, 色散共聚焦传感器, 3D玻璃测量, 精密测量, 段差测量, 厚度测量的公司。司逖测量拥有一支经验丰富、技术创新的专业研发团队，以高度的专注和执着为客户提供光谱共焦位移传感器，玻璃测量仪器，光谱共焦传感器，纳米级测量仪器。司逖测量继续坚定不移地走高质量发展道路，既要实现基本面稳定增长，又要聚焦关键领域，实现转型再突破。司逖测量始终关注自身，在风云变化的时代，对自身的建设毫不懈怠，高度的专注与执着使司逖测量在行业的从容而自信。