光谱共焦位移传感器——线传感器
MP***M线扫描传感器
MP***M控制器，是市场上首台“线”光谱共聚焦传感器。
包含了180个**的光谱共聚焦通道。 每个通道测量样品表面上的单个点，并包含自己的点源，zhen孔和光谱仪。
在MP***M中，控制器和光学头通过两个光纤束连接。
首束将控制器的内部光源连接到镜头的入射面; 180束光纤电缆的前列成为180个通道的点源。
第二束连接光谱仪的输出平面; 180根光纤电缆的前列实现了180个通道的zhen孔。
MP***M控制器——技术特点
l 市场上首台“线”光谱共聚焦传感器
l 投射到样品表面为一条线，由180个离散点组成，每点对应一条**测量通道
l 比较大线率是2000 lines/秒
l 高工作量（360000点/秒）
l 由千兆以太网进行数据传输
l gao分辨率，高精度
l 可测量任何材料
l 对外部环境光线不敏感
l 兼容所有光学头
l 同步方式：主和从
l 借助DLL工具，易于管理
“点”传感器的相关产品介绍急术语解释：
光斑尺寸(Spot Size):指理论上的光斑尺寸，用于计算聚焦的波长（指示值）。
测量范围（Measuring Range，简称MR）:又叫测量行程，指0到比较大可量测值的区间范围。标定测量范围是针对上述表格中的特定控制器。在降低性能的情况下也可以加大标定的行程。
工作距离（Working Distance，简称WD）：是光学笔前端到量程近端的距离。
比较大采样斜率（Max.Sample slope，简称MSS）：是光轴和样品表面的法线之间的比较大角度，在此角度下测量依然有效。
司逖测量技术(上海)有限公司是法国stil公司在中国的销售公司。法国stil公司为全球各行企业提供高性能 光谱共焦位移传感器（chromatic confocal sen）已经超过25年。为应对公司在中国市场快速增长的需求，2016年stil成立了中国销售公司，即司逖测量技术（上海）有限公司，我们在华东(上海浦东新区)及华南(东莞长安中心区)分别设有总公司及办事处，两地均交通便捷、物流发达，以便更好地为中国客户提供质量的售前售后服务。 作为光谱共焦传感器的发明者及全球**者，法国stil公司基于这一创新的技术开发了两个系列的产品：从0.1μm到100mm测量行程的点光谱共焦传感器、从1.8mm到45mm线长的不同测量行程的线光谱共焦传感器。 这些高分辨率的非接触式传感器可运用于各种不同要求的高精密测量场合。从物体表面细微结构、形状及纹理粗糙度的测量分析，到工业环境下的在线质量检测、过程控制与逆向工程，及实验室研究场合的高精度设备，法国stil光谱共焦传感器都成了众多客户不可或缺的选择。 法国stil光谱共焦位移传感器为全球各行业（可应用行业范围：玻璃、医疗、电子、半导体、汽车、航空航天、制表业…等）企业提供高性能的光谱共焦位移传感器。任何材料的物体，如金属、玻璃、陶瓷、半导体、塑料、织物等，stil光谱共焦传感器都可轻松测量，而且对被测物体表面的颜色和光洁度也没有任何特殊要求，无论什么颜色，物体表面是漫反射或者高光面，乃至于镜面，stil光谱共焦传感器都可以轻松测量。
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