点传感器的相关软件说明
CCS Manager
●一个非常强大的可执行程序,允许在段时间内使用CCS、STIL-DUO或STIL-VIZIR传感器进行测量。
●拥有非常友好的人机界面,容易取得精确测量结果,且对CCS传感器进行相关设置操作。
●可升级传感器固件,以便获得即时优化和STIL工程师开发的即时功能
●控制器的现场校准
●下载传感器的校准表,以便CCS控制器配置使用更多光学笔
●特别的的“诊断”功能,允许记录传感器的当前状态到文件。可以直接发送到STIL的应用与支持部门。
DLL
●提供一种强大的软件开发工具包,使STIL传感器很容易和客户应用进行对接。其主要功能:
●初始化并且通过RS232、以太网、或USB连接传感器
●接收/设置传感器配置,如:采样率、测量模式(距离/厚度)、光学笔选择、数据输出设置、模拟输出设置
●测量传感器“暗”信号
●启用禁用硬件触发模式
●通过其他程序启动测量
●与其他程序同步测量
●获取传感器状态和“ **终报错”参数
多层测厚软件
●STIL-DUO传感器的多峰软件,允许测量多层透明样本的厚度(可达10层)
STIL控制器介绍
CCS Optima+控制器
●测量频率:高达10K Hz
●高灵敏度,在多种样品上可以达到有效的高频率
●具备CCS系列控制器的所有优势
CCS Prima控制器
●当下行的光谱共聚焦控制器
●测量频率:高达2K Hz
●CCD光电探测器,即便有非常高的信噪比
●2通道和4通道。多通道型号可供选择(传输时间<400ms)
●具备CCS系列控制器的所有优势
STIL-VIZIR控制器
●高精度的比较好解决方案,非接触式晶片厚度测量
●近红外光谱带
●(测量频率)高达1K HZ
●距离和厚度模式
●数字输出:USB和RS232/RS422
●2个0V-10V的模拟输出
●同步读取3个外部数字编码器
●由于特定的厚度校准,提高了厚度模式下的性能
●长寿命光源,
●高级功能:“首要峰值”,“双倍频率”,“保持**终值”,时间平均......
司逖测量技术(上海)有限公司是法国stil公司在中国的销售公司。法国stil公司为全球各行企业提供高性能 光谱共焦位移传感器(chromatic confocal sen)已经超过25年。为应对公司在中国市场快速增长的需求,2016年stil成立了中国销售公司,即司逖测量技术(上海)有限公司,我们在华东(上海浦东新区)及华南(东莞长安中心区)分别设有总公司及办事处,两地均交通便捷、物流发达,以便更好地为中国客户提供优质的售前售后服务。 作为光谱共焦传感器的发明者及全球领先者,法国stil公司基于这一创新的技术开发了两个系列的产品:从0.1μm到100mm测量行程的点光谱共焦传感器、从1.8mm到45mm线长的不同测量行程的线光谱共焦传感器。 这些高分辨率的非接触式传感器可运用于各种不同要求的高精密测量场合。从物体表面细微结构、形状及纹理粗糙度的测量分析,到工业环境下的在线质量检测、过程控制与逆向工程,及实验室研究场合的高精度设备,法国stil光谱共焦传感器都成了众多客户不可或缺的选择。 法国stil光谱共焦位移传感器为全球各行业(可应用行业范围:玻璃、医疗、电子、半导体、汽车、航空航天、制表业…等)企业提供高性能的光谱共焦位移传感器。任何材料的物体,如金属、玻璃、陶瓷、半导体、塑料、织物等,stil光谱共焦传感器都可轻松测量,而且对被测物体表面的颜色和光洁度也没有任何特殊要求,无论什么颜色,物体表面是漫反射或者高光面,乃至于镜面,stil光谱共焦传感器都可以轻松测量。
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