光谱共焦位移传感器——STIL 3D测量系统
Micromesure是一个模块化非接触式测量站,专门用于gao分辨率3D微型拓扑图以及形状和纹理分析。
它可以测量物体的轮廓或表面以及透明材料的厚度。
配置MPLS180-DM传感器的MICROMESURE2
l 3个光学头可选择:NanoView,MicroView和DeepView
l MPLS180的流量非常高,大面积测量的持续时间可从几小时缩短到几分钟(或几秒)!
l 包含**软件:LineSensorMap
技术特点
●是MPLS,CCS和CHR传感器的集成;
●可测量任何材料;
●无需样品制备;
●系统完全自动化;
●模块化架构;
●传感器自动选择;
●高精确度和平直度。
基于光谱共焦传感器:
●非接触式尺寸测量;
●纳米和微米分辨率;
●白光传感器(wu斑点,测量范围宽);
●同轴测量(无阴影);
●镜面(反光)表面上的局部高斜坡;
●对环境光不敏感;
●可以测量金属,玻璃,半导体,陶瓷...等;
●透明物体厚度&形状测量;
●测量范围宽(从20微米到24毫米)。
基于高质量扫描系统:
●Z轴上,0,1μm编码器(系列产品);
●X和Y轴上,0,1μm编码器(可选);
●低振动;
●正交和平坦度校正;
●透明的工作间,避免空气震动。
STIL-“线”传感器的相关产品介绍
SCHEMATIC-原理
MP***M包含了180个**的光谱共聚焦通道,每个通道测量样品表面上的单个点,并包含自己的点源,针kong和光谱仪。
在MP***M中,控制器和光学头通过两个光纤速连接,第1台束将控制器的内部光源连接到镜头的入射面;180束光纤电缆的前列成为180个通道的点源。第二束连接光谱仪的输出平面;180根光纤电缆的前列实现了180个通道的针kong。
MP***M光谱共焦传感器
特征:
●市场上第1台台“线”光谱共聚焦传感器。
●投射到样品表面为一条线,由180个离散点组成,每点对应一条**测量通道
●比较大线率是2000 lines/秒
优势
●高速测量(360000点/秒)
●由于千兆以太网进行数据传输
●高fen辨率,高精度
●可测量任何材料
●对外部环境光线不敏感
●兼容所有光学头
●同步方式:主和从
司逖测量技术(上海)有限公司是法国stil公司在中国的销售公司。法国stil公司为全球各行企业提供高性能 光谱共焦位移传感器(chromatic confocal sen)已经超过25年。为应对公司在中国市场快速增长的需求,2016年stil成立了中国销售公司,即司逖测量技术(上海)有限公司,我们在华东(上海浦东新区)及华南(东莞长安中心区)分别设有总公司及办事处,两地均交通便捷、物流发达,以便更好地为中国客户提供质量的售前售后服务。 作为光谱共焦传感器的发明者及全球**者,法国stil公司基于这一创新的技术开发了两个系列的产品:从0.1μm到100mm测量行程的点光谱共焦传感器、从1.8mm到45mm线长的不同测量行程的线光谱共焦传感器。 这些高分辨率的非接触式传感器可运用于各种不同要求的高精密测量场合。从物体表面细微结构、形状及纹理粗糙度的测量分析,到工业环境下的在线质量检测、过程控制与逆向工程,及实验室研究场合的高精度设备,法国stil光谱共焦传感器都成了众多客户不可或缺的选择。 法国stil光谱共焦位移传感器为全球各行业(可应用行业范围:玻璃、医疗、电子、半导体、汽车、航空航天、制表业…等)企业提供高性能的光谱共焦位移传感器。任何材料的物体,如金属、玻璃、陶瓷、半导体、塑料、织物等,stil光谱共焦传感器都可轻松测量,而且对被测物体表面的颜色和光洁度也没有任何特殊要求,无论什么颜色,物体表面是漫反射或者高光面,乃至于镜面,stil光谱共焦传感器都可以轻松测量。
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