3D测量系统MICROMESURE2
配置“点”传感器的MICROMESURE 2系统
MICROMESURE 2系统，配置CCS-PRIMA,STIL-DUO传感器，是非接触式表面测量的理想工具，包含3D粗糙度，形状测量和3D微观形貌。
MICROMESURE 2系统，充分利用了STIL非接触式传感器在各种应用和领域的***性能。
与配套的控制&采集硬件和软件一起交付，MICROMESURE 2系统是一套整机，启动后立刻执行（指令）。
借助光谱共焦传感器
●非接触式尺寸测量
●纳米和微米分辨
●白光传感器（***点，大测量范围）
●同轴测量（无阴影）
●镜面上的高局部斜率（反射式）
●对环境光不敏感
●可测量金属，玻璃，半导体，陶瓷和其他更多材料
●透明物体的厚度测量方式
●具有大测量范围能力（20μm-24mm）
借助高质量的扫描系统
●Z轴0.1μm编码器（系列产品）
●X&Y轴0.1μm编码器（可选择）
●低震动
●正交性和平面度校正
●透明的作业空间，避免气流震荡
点传感器的相关软件说明
CCS Manager
●一个非常强大的可执行程序，允许在段时间内使用CCS、STIL-DUO或STIL-VIZIR传感器进行测量。
●拥有非常友好的人机界面，容易取得精确测量结果，且对CCS传感器进行相关设置操作。
●可升级传感器固件，以便获得即时优化和STIL工程师开发的即时功能
●控制器的现场校准
●下载传感器的校准表，以便CCS控制器配置使用更多光学笔
●特别的的“诊断”功能，允许记录传感器的当前状态到文件。可以直接发送到STIL的应用与支持部门。
DLL
●提供一种强大的软件开发工具包，使STIL传感器很容易和客户应用进行对接。其主要功能：
●初始化并且通过RS232、以太网、或USB连接传感器
●接收/设置传感器配置，如：采样率、测量模式(距离/厚度）、光学笔选择、数据输出设置、模拟输出设置
●测量传感器“暗”信号
●启用禁用硬件触发模式
●通过其他程序启动测量
●与其他程序同步测量
●获取传感器状态和“ **终报错”参数
多层测厚软件
●STIL-DUO传感器的多峰软件，允许测量多层透明样本的厚度（可达10层）
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